Precursor chemistry of Tantalum and Niobium nitride for MOCVD and ALD applications

  • Die Dissertation beschäftigt sich mit der Abscheidung von dünnen Tantal- und Niobium- Nitridschichten. Die Schichten wurden mittels Metallorganischer Chemischer Dampfabscheidung (MOCVD) und Atomic Layer Deposition (ALD) erzeugt. Während der Arbeit wurden drei Precursorklassen untersucht: Amido/Imido-Komplexe, Amido/Imido/Hydrazido-Komplexe und Amido/Imido/Guanidinato-Komplexe. Letztere zeigten ein ideales Zersetzungsverhalten um leitfähige TaN- und NbN-Schichten zu erzeugen. Diese Filme sollen in der Halbleiterindustrie in Form von Diffusionsbarrieren und Gateelektroden Anwendung finden.

Download full text files

Export metadata

Additional Services

Share in Twitter Search Google Scholar
Metadaten
Author:Arne BaunemannGND
URN:urn:nbn:de:hbz:294-17895
Referee:Roland A. FischerGND, William S. SheldrickGND
Document Type:Doctoral Thesis
Language:English
Date of Publication (online):2006/12/20
Date of first Publication:2006/12/20
Publishing Institution:Ruhr-Universität Bochum, Universitätsbibliothek
Granting Institution:Ruhr-Universität Bochum, Fakultät für Chemie und Biochemie
Date of final exam:2006/12/08
Creating Corporation:Fakultät für Chemie und Biochemie
GND-Keyword:Mikroelektronik; Diffusionsbarriere; MOCVD-Verfahren; Nitride; Nanostruktur
Institutes/Facilities:Lehrstuhl für Anorganische Chemie II
Dewey Decimal Classification:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie, Kristallographie, Mineralogie
faculties:Fakultät für Chemie und Biochemie
Licence (German):License LogoKeine Creative Commons Lizenz - es gelten der Veröffentlichungsvertrag und das deutsche Urheberrecht