Precursor chemistry of Tantalum and Niobium nitride for MOCVD and ALD applications
- Die Dissertation beschäftigt sich mit der Abscheidung von dünnen Tantal- und Niobium- Nitridschichten. Die Schichten wurden mittels Metallorganischer Chemischer Dampfabscheidung (MOCVD) und Atomic Layer Deposition (ALD) erzeugt. Während der Arbeit wurden drei Precursorklassen untersucht: Amido/Imido-Komplexe, Amido/Imido/Hydrazido-Komplexe und Amido/Imido/Guanidinato-Komplexe. Letztere zeigten ein ideales Zersetzungsverhalten um leitfähige TaN- und NbN-Schichten zu erzeugen. Diese Filme sollen in der Halbleiterindustrie in Form von Diffusionsbarrieren und Gateelektroden Anwendung finden.
Author: | Arne BaunemannGND |
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URN: | urn:nbn:de:hbz:294-17895 |
Referee: | Roland A. FischerGND, William S. SheldrickGND |
Document Type: | Doctoral Thesis |
Language: | English |
Date of Publication (online): | 2006/12/20 |
Date of first Publication: | 2006/12/20 |
Publishing Institution: | Ruhr-Universität Bochum, Universitätsbibliothek |
Granting Institution: | Ruhr-Universität Bochum, Fakultät für Chemie und Biochemie |
Date of final exam: | 2006/12/08 |
Creating Corporation: | Fakultät für Chemie und Biochemie |
GND-Keyword: | Mikroelektronik; Diffusionsbarriere; MOCVD-Verfahren; Nitride; Nanostruktur |
Institutes/Facilities: | Lehrstuhl für Anorganische Chemie II |
Dewey Decimal Classification: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie, Kristallographie, Mineralogie |
faculties: | Fakultät für Chemie und Biochemie |
Licence (German): | Keine Creative Commons Lizenz - es gelten der Veröffentlichungsvertrag und das deutsche Urheberrecht |