Dislocation transmission through copper grain boundaries at the micron scale

  • Die vorliegende Arbeit beschäftigt sich mit der Versetzungstransmission durch die Kupferkorngrenzen. Diese wurde mittels \(\textit {in situ}\) Druckversuchen im Rasterelektronmikroskop (REM) und mit Laue-Mikrobeugung untersucht. Die REM Untersuchungen dienen der Bestimmung der kollektiven Versetzungsbewegung und die Laue-Mikrobeugung der Bestimmung der lokalen Wechselwirkung zwischen Versetzungen und Korngrenze. Alle Experimente wurden an mikroskopisch kleinen bikristallinen Proben durchgeführt, die unterschiedliche Arten von vertikal ausgerichteten Korngrenzen besitzen: eine \(\Sigma\) 3{111} Zwillingskorngrenze und eine allgemeine Großwinkelkorngrenze. Das Kapitel 5 beschäftigt sich mit den Messungen der minimalen und maximalen Transmissionsspannungen durch die Zwillingskorngrenze und ihre Abhängigkeit von der Druckrichtung. Weitere Ergebnisse zeigen die Abhängigkeit des mechanischen Verhältnisses von Bikristalle von ihrer Probengröße (Kapitel 6) und Dehnrate (Kapitel 7).

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Metadaten
Author:Nataliya Valerievna MalyarGND
URN:urn:nbn:de:hbz:294-53977
Referee:Gerhard DehmGND, Gunther EggelerORCiDGND
Document Type:Doctoral Thesis
Language:English
Date of Publication (online):2017/09/08
Date of first Publication:2017/09/08
Publishing Institution:Ruhr-Universität Bochum, Universitätsbibliothek
Granting Institution:Ruhr-Universität Bochum, Fakultät für Maschinenbau
Date of final exam:2017/05/29
Creating Corporation:Fakultät für Maschinenbau
GND-Keyword:Size-Effekt; Korngrenze; Bikristall; Kupfer; Mikromechanik
Institutes/Facilities:Max-Planck-Institut für Eisenforschung, Düsseldorf, Abteilung Struktur und Nano-/Mikromechanik von Materialien
Dewey Decimal Classification:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften, Maschinenbau
faculties:Fakultät für Maschinenbau
Licence (German):License LogoKeine Creative Commons Lizenz - es gelten der Veröffentlichungsvertrag und das deutsche Urheberrecht