Enabling true atomic-scale analytical imaging, application to solute segregation at crystal defects in high-temperature materials
- Die Visualisierung und chemische Identifizierung einzelner Atome ist seit langem ein Ziel der Mikroskopie. Die Atomsondentomographie liefert die dreidimensionale chemische Zusammensetzung mit einer räumlichen Auflösung im Subnanometerbereich. Allerdings können atomare Defekte nicht direkt abgebildet werden. Mit der Feldionenmikroskopie können kristallographische Defekte ohne chemische Informationen direkt abgebildet werden. Analytisches FIM (aFIM) kombiniert atomare räumliche Auflösung mit chemischer Identifizierung. Diese Technik wurde zur Analyse von W- und Ni-Legierungen verwendet. Durch die Filterung des Masse-Ladungs-Spektrums erhöhte sich das Signal-Hintergrund-Verhältnis um bis zu drei Größenordnungen. Darüber hinaus wurde für die Ni-Legierung eine Segregation von W-Ionen zu den Stapelfehlern abgebildet. Die hier gezeigte Entwicklung der Methoden verbessert die Zuverlässigkeit und Anwendbarkeit von aFIM und bringt uns der echten analytischen Bildgebung auf atomarer Ebene näher.
Author: | Felipe Ferraz Morgado de OliveiraGND |
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URN: | urn:nbn:de:hbz:294-125188 |
DOI: | https://doi.org/10.13154/294-12518 |
Referee: | Jörg NeugebauerGND, Ralf DrautzORCiDGND |
Document Type: | Doctoral Thesis |
Language: | English |
Date of Publication (online): | 2024/04/18 |
Date of first Publication: | 2024/04/18 |
Publishing Institution: | Ruhr-Universität Bochum, Universitätsbibliothek |
Granting Institution: | Ruhr-Universität Bochum, Fakultät für Physik und Astronomie |
Date of final exam: | 2023/10/24 |
Creating Corporation: | Fakultät für Physik und Astronomie |
GND-Keyword: | Atomsonde; Werkstoffkunde; Gitterbaufehler; Datenverarbeitung; Massenspektrometer |
Dewey Decimal Classification: | Naturwissenschaften und Mathematik / Physik |
faculties: | Fakultät für Physik und Astronomie |
Licence (German): | Keine Creative Commons Lizenz - es gelten der Veröffentlichungsvertrag und das deutsche Urheberrecht |